聚焦離子束
- 制造廠商：FEI
- 購置日期：2017-02-01
- 型號(hào)：G5
- 生產(chǎn)國別：美國
- 儀器類別：電子測量儀器
- 安放地址：上海市
跨區(qū)域科技政策：
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上海
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南京宿遷淮安徐州泰州鎮(zhèn)江揚(yáng)州鹽成常州無錫南通蘇州連云港
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杭州衢州溫州臺(tái)州舟山金華紹興湖州嘉興寧波麗水余姚
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合肥毫州六安宿州阜陽黃山淮北淮南蚌埠宣城池州滁州安慶銅陵蕪湖馬鞍山
- 儀器詳情
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1.Circuit Secondary Repair/Modify 2.Cross-Section 3.Failure/Structure Analysis 4.TM case sample fabrication
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暫無信息
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暫無信息
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A,電壓:Vacc:0.5~30KV Vext:0~6.5KV B,解析度:5nm at 25KeV C, 放大倍率:200~15000倍 D,可觀察範(fàn)圍:x:0~25mm;y:0~25mm;z:5~30mm
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電子與通信技術(shù)
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FIB集成電路線路修改技術(shù)分析服務(wù)
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暫無信息
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暫無信息
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暫無信息
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暫無信息
上海北芯半導(dǎo)體科技有限公司
機(jī)構(gòu)介紹:
上海北芯半導(dǎo)體科技有限公司在2013年成立于上海浦東張江高科技園區(qū),擁有先進(jìn)的半導(dǎo)體封裝、測試、分析、驗(yàn)證等設(shè)備及經(jīng)驗(yàn)豐富的工作團(tuán)隊(duì)，為IC設(shè)計(jì)公司、科研院所以及生產(chǎn)廠商提供快速且專業(yè)的芯片封裝、主要包括Wafer\MPW\shuttle研磨、切割、裸die挑選、工程品快封（陶瓷快封和塑脂快封）可靠性RA測試、FIB、競爭力分析、SEM、CP測試等技術(shù)分析測試服務(wù)，目前(Y2018/01)擁有專利53項(xiàng)、ISO9001:2008/2015認(rèn)證、CNAS(中國實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證）、集成電路公共研發(fā)服務(wù)平臺(tái)等機(jī)構(gòu)認(rèn)證，在可靠的品質(zhì)保證下，可以幫助客戶節(jié)省更多的研發(fā)時(shí)間和成本，是一家專業(yè)的半導(dǎo)體集成電路芯片驗(yàn)證服務(wù)公司。
自實(shí)驗(yàn)室成立之日起，我們始終秉承“客戶至上”的理念，堅(jiān)持以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膽B(tài)度追求創(chuàng)新，以專業(yè)的素養(yǎng)服務(wù)客戶，以誠信的經(jīng)營造就品牌，同時(shí)我們也深知，服務(wù)時(shí)效性以及工程質(zhì)量發(fā)展的決定性因素，我們有著充滿活力且經(jīng)驗(yàn)豐富的工作團(tuán)隊(duì)，加之整個(gè)團(tuán)隊(duì)對(duì)工作的執(zhí)行力以及無比敬業(yè)的精神，將為您提供專業(yè)、嚴(yán)謹(jǐn)、快速、高品質(zhì)的服務(wù)。
資質(zhì)能力：
