多用途鍵合測試儀
- 制造廠商：DAGE
- 購置日期：暫無信息
- 型號：Dage4000
- 生產國別：英國
- 儀器類別：物理性能測試儀器
- 安放地址：上海市
跨區(qū)域科技政策：
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上海
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- 儀器詳情
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主要用于芯片和模塊封裝中鍵合可靠性測試，為電路和模塊封裝提供量化評估和性能檢測。
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1.拉力測試測試范圍可在0-100G；0-1KG；0-10KG進行選擇；2.推球測試測試范圍可在250G 或 5KG進行選擇；3.芯片或CHIP推力測試范圍可在測試到0-100KG；0-200KG進行選擇；4.鑷子撕力測試頭量程為100G和5KG進行選擇；5.BGA拔球到0-100G；0-5KG進行選擇；6.另外的選項如矢量拉伸和自動測試等。
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電子與通信技術
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鍵合可靠性測試
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中國科學院上海微系統(tǒng)與信息技術研究所
機構介紹:
上?？茖W院上海微系統(tǒng)與信息技術研究所原名中國科學院上海冶金研究所，是中國科學院所屬以信息微系統(tǒng)技術的研究與開發(fā)為主的高技術研究所，主要研究領域包括微電子機械系統(tǒng)、傳感器技術、無線信息網絡、射頻與微波模塊、光電子器件、生物芯片、新型電池技術等。該所以國家需求為導向，圍繞“電子科學與技術”、“信息與通信工程”兩大新的學科方向，利用本所在功能材料與器件研究方面的積累和微電子平臺工藝技術為支撐，以“小衛(wèi)星、微系統(tǒng)技術平臺”兩個重大項目為依托，以系統(tǒng)帶器件、器件帶材料、加強原始創(chuàng)新，加強關鍵技術創(chuàng)新與集成研究，開展集成微光機電系統(tǒng)、天地一體化通信技術與系統(tǒng)，信息功能材料與器件、微型和新型能源技術與系統(tǒng)等研究活動。中國科學院上海微系統(tǒng)與信息技術研究所中國科學院上海微系統(tǒng)與信息技術研究所。
資質能力：
