對半導(dǎo)體、金屬、聚合物、化學(xué)試劑、生物材料和環(huán)境樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)、缺陷、組份及電學(xué)、光學(xué)特性的表征和分析工作,為相關(guān)行業(yè)提供服務(wù)
半導(dǎo)體
? 硅材料的微結(jié)構(gòu)和微缺陷
? 硅和化合物體內(nèi)雜質(zhì)
? 超晶格量子阱機(jī)構(gòu)和缺陷
? 重?fù)诫sCZ-Si單晶中氧碳含量
? 半導(dǎo)體中的雜質(zhì)能級
? 異質(zhì)結(jié)材料結(jié)構(gòu)和缺陷
? SOI、SOS、SIMOX材料結(jié)構(gòu)
? 電阻率、載流子濃度及遷移率
金屬
? 4N~7N純度金屬
? 金屬雜質(zhì)深度分部
? 表面氧化、偏析、硬化處理的深度
? Al硅化物中U及Th含量
? 痕量雜質(zhì)的深度分
單位介紹